XDXIII-DF350A型無損測試設(shè)備
?儀器特點:
一 XDXIII-DF350A型無損測驗設(shè)備,電子元器件、封裝元器、半導(dǎo)體元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、集成電路、連接器、電熱絲、電路板、發(fā)熱管、發(fā)熱絲、電子產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否變形、脫焊、空焊移位、等測試;還可用于:鑄件、壓模鑄件、注塑件、氣孔、氣泡等測試。
儀器技術(shù)參數(shù):
1、數(shù)字成像視場: 350X430mm(不同面積可訂制)? ? ? ?
2、像素間距:140um;? ? ? ? ?
3、間距:300-800mm;? ? ? ?
4、A/D轉(zhuǎn)換;16/bits? ? ? ? ?
5、空間分辨率;4.0LP/mm
6、管電壓:40-120kv;? ? ? ??
7、管靶流:0.2-1.5mA;
8、電腦系統(tǒng):windows10;
9、電腦尺寸:16寸臺式電腦(有線無線連接電腦)
10、遠程控制: 遠程使用軟件;
11、有線傳輸端口:千兆網(wǎng)口;
12、無線傳輸:5G wifi;
13、外形尺寸:1350×800x710mm;
14、主機重量:210kg;? ??
15、適配器輸出電壓:DC24V。
16、交流電源頻率:50-60hz;
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XDR-